易科泰PhenoTron®-SR植物根系成像分析系统近日在河北农大华北作物改良与调控国家重点实验室安装运行,该系统可同时对作物根系及苗、作物冠层进行无损原位表型成像分析,易科泰工程师一行在现场和老师同学们就系统操作、数据处理以及行业应用等做了深入的交流。
左:河北农大华北作物改良与调控国家重点实验室;右:安装培训现场
左:水分指数(WI);右:归一化氮素指数(NDNI)。可发现主根处含水量最高,侧根处较小,须根最低,但在老根上部分含水量最低。同时主根处氮的相对含量最高,侧根处较低,须根最低
“图谱合一”的根系高光谱原位成像数据
左:根系基本形态学分析:不同颜色代表不同直径范围,右上角展示了根系基本形态参数;右:根系等级分析:其中青色为主根(0级根)、蓝色为侧根(1级根)。右上角展示了主根形态参数
PhenoTron®-SR植物根系成像分析系统主要特点:
北京易科泰提供作物表型与根系成像系统全面测量解决方案:
1. RhizoTron®根系表型观测系统
2. PhenoPlot®植物表型成像分析系统
3. PhenoTron®-YZ植物表型与种质资源成像分析系统
4. PhenoTron®复式智能LED光源培养与光谱成像分析平台
5. FluorTron®多功能高光谱成像分析系统
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